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產(chǎn)品中心 臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析 澤攸臺(tái)式掃描電鏡
澤攸臺(tái)式掃描電鏡
 產(chǎn)品分類(lèi)
產(chǎn)品分類(lèi)
澤攸電鏡高分辨率成像的電鏡 澤攸電鏡以高分辨率成像為核心優(yōu)勢(shì),采用場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)娮邮炼雀摺⑹咝。懿蹲降礁?xì)微的微觀結(jié)構(gòu)。電子槍真空度達(dá)到 1×10??Pa,減少了電子與氣體分子的碰撞,延長(zhǎng)了電子槍的使用壽命。
 更新時(shí)間:2025-08-25
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產(chǎn)品型號(hào): 瀏覽量:73
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澤攸電鏡集成化分析的電鏡系統(tǒng) 在半導(dǎo)體行業(yè),EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè),快速定位劃痕、污染等問(wèn)題;在材料科學(xué)領(lǐng)域,能觀察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu),分析相分布情況;在地質(zhì)研究中,可識(shí)別礦物顆粒的微觀形態(tài),輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果,為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。
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澤攸電鏡兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡 在半導(dǎo)體行業(yè),EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè),快速定位劃痕、污染等問(wèn)題;在材料科學(xué)領(lǐng)域,能觀察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu),分析相分布情況;在地質(zhì)研究中,可識(shí)別礦物顆粒的微觀形態(tài),輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果,為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。
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澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎(chǔ)型掃描電鏡,在材料表面觀察領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其核心電子光學(xué)系統(tǒng)采用高品質(zhì)磁透鏡,通過(guò)多層線圈纏繞技術(shù),形成均勻的磁場(chǎng)分布,為電子束的聚焦提供穩(wěn)定條件。
 更新時(shí)間:2025-08-25
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產(chǎn)品型號(hào): 瀏覽量:78
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樣品處理與制備:ZEM系列臺(tái)式電鏡 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
 更新時(shí)間:2025-08-20
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原位實(shí)驗(yàn)方案:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
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