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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸臺(tái)式掃描電鏡
澤攸電鏡兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡




產(chǎn)品簡(jiǎn)介
澤攸電鏡兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡在半導(dǎo)體行業(yè),EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè),快速定位劃痕、污染等問(wèn)題;在材料科學(xué)領(lǐng)域,能觀察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu),分析相分布情況;在地質(zhì)研究中,可識(shí)別礦物顆粒的微觀形態(tài),輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果,為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。
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