針對需要深入分析材料內部結構的研究，澤攸電鏡 展現出優勢。其采用場發射電子槍，加速電壓范圍 10 - 30kV，電子束斑直徑可小至 1.5nm，為高分辨率成像提供保障。
該型號配備能量色散 X 射線譜儀（EDS），能對樣品微區進行元素定性與定量分析，元素檢測范圍從 B 到 U。EDS 探測器分辨率優于 133eV，在分析微小夾雜物的成分時表現出色。
鏡筒采用雙層水冷結構，避免電子光學系統因長時間工作產生的溫度漂移，保證成像穩定性。真空系統極限真空可達 1×10??Pa，適合對真空度要求較高的樣品，如易揮發的有機材料。澤攸 深入材料內部的探索者
參數方面，放大倍數 200 - 2,000,000 倍，樣品臺可實現 ±30° 傾斜與 360° 旋轉，便于觀察樣品的立體結構。使用時，通過軟件可聯動控制電鏡與 EDS 系統，一鍵完成成像與成分分析的切換。
在航空航天材料檢測中，可用于分析渦輪葉片的氧化層成分；在地質研究中，能識別礦物顆粒中的微量元素分布，為多領域研究提供微觀結構與成分的關聯數據。澤攸 深入材料內部的探索者
樣品臺采用高精度步進電機驅動，移動范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調節范圍 10mm，定位精度達 1μm，可實現樣品的精準定位與多區域觀察。設備配備數字成像系統，圖像采集速度達 15 幀 / 秒，支持實時觀察與快速存儲。
用材上，鏡筒內部關鍵部件采用無氧銅材質，經特殊工藝處理減少雜散磁場干擾；真空系統由機械泵與分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。
使用說明中明確了操作步驟：開機預熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達標后設置加速電壓與放大倍數，通過搖桿控制樣品臺移動至觀察區域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結構觀察等領域。
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