澤攸電鏡 ZEM20 在設計上注重平衡測量效率與成像質量，其電子槍采用 LaB6 燈絲，較傳統鎢燈絲具有更高的亮度和更長的使用壽命，在相同加速電壓下能獲得更清晰的圖像。
加速電壓可在 1 - 20kV 范圍內連續可調，束流穩定度優于 2%/h，確保長時間觀察時圖像質量的一致性。分辨率方面，二次電子像在 30kV 下可達 3.0nm，背散射電子像為 5.0nm，能滿足多數材料的納米級結構分析需求。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節的電鏡
樣品臺采用高精度步進電機驅動，移動范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調節范圍 10mm，定位精度達 1μm，可實現樣品的精準定位與多區域觀察。設備配備數字成像系統，圖像采集速度達 15 幀 / 秒，支持實時觀察與快速存儲。
用材上，鏡筒內部關鍵部件采用無氧銅材質，經特殊工藝處理減少雜散磁場干擾；真空系統由機械泵與分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。
使用說明中明確了操作步驟：開機預熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達標后設置加速電壓與放大倍數，通過搖桿控制樣品臺移動至觀察區域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結構觀察等領域。澤攸 ZEM20：兼顧效率與細節的電鏡
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