核心技術特點

澤攸原位電鏡MEMS系統技術解析方案 澤攸原位電鏡MEMS系統技術解析方案

多功能激勵模塊

• 集成熱學、電學、力學等多物理場激勵功能

• 溫度控制范圍通常為室溫至1000℃

• 最大施加電壓可達200V

• 力學加載分辨率可達毫牛量級

樣品適配設計

• 標準樣品窗口尺寸為500×500μm

• 兼容主流透射電鏡樣品桿接口

• 支持液體環境實驗（選配）

• 低熱漂移結構設計

信號采集系統

• 集成高靈敏度傳感器

• 實時數據同步采集功能

• 多通道信號輸出接口

• 兼容電鏡圖像同步記錄

典型應用方向

1. 納米材料在外場作用下的結構演變研究

2. 催化劑材料反應過程的原位觀察

3. 低維材料機電性能表征

4. 功能材料相變行為分析

5. 微納器件工作機理研究

操作注意事項

• 需在專業人員指導下安裝使用

• 實驗參數設置建議循序漸進

• 高溫實驗需注意熱平衡時間

• 定期檢查電氣連接狀態

• 建議配合防震措施使用

技術支持服務

澤攸科技提供以下專業支持：

• 系統安裝與操作培訓

• 實驗方案設計咨詢

• 定期維護保養服務

• 專用配件供應保障

• 數據分析方法指導

產品價值體現

該原位MEMS系統通過其多場耦合的實驗能力和精密的微納結構設計，為透射電鏡下的動態觀測研究提供了實用的技術手段。系統適用于需要在外場條件下研究材料微觀結構變化的科研領域。澤攸原位電鏡MEMS系統技術解析方案