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分析任一顆粒顆粒度分析中經(jīng)常需要就顆粒數(shù)目、尺寸及粒徑分布等對樣品數(shù)字圖像進(jìn)行分析。在不同行業(yè)中，這些顆粒可能是金屬尾礦或是其它污染物，如液體中的微晶或氣孔或機(jī)器零件中的瑕疵或氣泡。這方面的分析需要具備精確測量、高分辨率、電動載物臺和圖像拼接，以及圖像分析軟件。殘留污垢顆粒度分析的一個重要應(yīng)用便是殘余污垢的測定。許多行業(yè)都要求依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定，控制并記錄產(chǎn)品的清潔度。一個已加工好的零部件可能布滿灰塵，或殘留有各種污物。隨機(jī)抽選配件，用定量液體沖洗，然后通過濾膜加壓，所有灰塵...

增強(qiáng)型光學(xué)測量技術(shù)雖然一開始作為高性能3D光學(xué)輪廓儀設(shè)計，但是我們的某些系統(tǒng)勝過所*現(xiàn)有的光學(xué)輪廓儀，集所有技術(shù)于一身。條紋投影AI多焦面疊加共聚焦干涉光譜反射條紋投影非常適合大面積測量，垂直精度和可重復(fù)性高，系統(tǒng)噪聲低。了解更多產(chǎn)品陣容技術(shù)組合我們的系統(tǒng)采用不同光學(xué)測量技術(shù)進(jìn)行工作，一部分系統(tǒng)采用組合技術(shù)。聚集這些技術(shù)的優(yōu)點，外加*新技*和操作軟件，成就市場上*具競爭力的高級測量設(shè)備。為何使用四合一技術(shù)？采用Sensofar的四合一法–正如Sneox系統(tǒng)那樣–在軟件中單擊一...

我們熟知各類規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)許多金相學(xué)分析方法都是在特定的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)下執(zhí)行的，如對鋼中非金屬夾雜物（NMI）的測定或者晶粒度分析等。為依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)來測定這些參數(shù)，您需要一臺金相顯微鏡或是配有專業(yè)軟件模塊的顯微鏡系統(tǒng)。鋼中非金屬夾雜物（NMI）含量是一個影響鋼鐵強(qiáng)度和韌性的重要因素，對其標(biāo)準(zhǔn)的測定需要在配有專業(yè)軟件模塊的顯微鏡系統(tǒng)下進(jìn)行。如果您在鋼鐵工業(yè)工作或是生產(chǎn)鋼鐵產(chǎn)品（如汽車業(yè)或機(jī)械制造業(yè)），則需要一套能夠依照現(xiàn)行國際標(biāo)準(zhǔn)自動重復(fù)分析NMI含量的顯微系統(tǒng)。控制晶粒大小晶粒度分析...

西班牙SensofarSneox三維共聚焦白光干涉儀用于汽車發(fā)動機(jī)缸套的紋理幾何形狀評估激光加工可通過應(yīng)用紋理來開發(fā)工程表面，可以產(chǎn)生增強(qiáng)的功能性能，如表面摩擦、觸感行為、潤濕性能等。使用皮秒和飛秒級的超短脈沖進(jìn)行激光加工，可加工出具有高度精確的微觀幾何形狀、邊緣和表面的表面紋理。五軸激光加工能夠?qū)哂袕?fù)雜輪廓的三維組件進(jìn)行無縫紋理處理。測量數(shù)據(jù)SensofarSneox3D光學(xué)輪廓儀已成為MTC表面紋理不可或*的一部分，發(fā)揮了重要作用。與汽車公司合作的實驗研究中，MTC開發(fā)...

背景條紋投影原理將結(jié)構(gòu)光以一定角度投射到樣本上，用相機(jī)接收反射光。投射到某個表面上時，投射光型改變，因此，通過確定條紋圖形與高度變化之間的相互關(guān)系，我們就可獲得3D圖像。光學(xué)方案為了在現(xiàn)場樣本上獲得均勻、聚焦且等距的條紋投影，Scheimpflug配置與雙遠(yuǎn)心鏡頭一起使用。不管物體在視場中的距離或位置如何，均有恒定的放大倍率，是測量用途的理想之選。主要特征正確單拍采集垂直精度高的大區(qū)域而且可重復(fù)性高(σ=0.01µm)，系統(tǒng)噪聲低至0.5µm實像顏色沒...

主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發(fā)的光學(xué)技術(shù)。這項技術(shù)基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測量領(lǐng)域的廣泛專業(yè)知識，專門設(shè)計用于補(bǔ)充低放大率下的測量。BACKGROUND多焦面疊加原理主動照明多焦面疊加技術(shù)利用了明場中存在景深的特點，樣品只有在的特定z范圍中對焦。景深會根據(jù)物鏡的數(shù)值孔徑或光源波長而變化。Z高度的值是根據(jù)圖像的高對比度（清晰度或微小細(xì)節(jié)）來計算的，從而得出正確的對焦位置。光學(xué)技術(shù)我們的光學(xué)技術(shù)是通過專*的microdisplay來實現(xiàn)，光線會...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術(shù)共聚焦技術(shù)能夠測量表面高度，將常規(guī)圖像轉(zhuǎn)換成光學(xué)剖面，其中，物鏡焦深范圍內(nèi)的那些區(qū)域的信號被保留，改善了圖像對比度、橫向分辨率和系統(tǒng)噪聲。光學(xué)方案對于3D成像，必須從相機(jī)的所有像素獲取數(shù)據(jù)。這意味著：重新構(gòu)建共聚焦圖像。為此，多狹縫圖像偏移一個像素，達(dá)到必要的次數(shù)，以填充相機(jī)。多狹縫每偏移一次，拍一張相機(jī)圖像，對那一刻照亮的像素應(yīng)用共聚焦算法。SENSOFAR專*技術(shù)光學(xué)結(jié)構(gòu)中沒有運動零件Sensofar系統(tǒng)中實施的共聚焦掃描技術(shù)是...

干涉工作原理干涉技術(shù)的工作原理是：將光分成光學(xué)傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產(chǎn)生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點對準(zhǔn)后，可在樣本上觀察到條紋。光學(xué)方案PSI的光學(xué)方案與FV具有相同配置，但是現(xiàn)在采用干涉物鏡而不是明場。為了獲得形貌，沿著Z方向掃描傳感器頭。對于PSI，掃描幾微米，并檢索相位。對于CSI，掃描需要的微米數(shù)，以掃描完整表面。PSI:相移干涉對于所有數(shù)值孔徑(NA)，開發(fā)了相移干涉法(PSI)，以亞埃分辨率測量高度光滑和連續(xù)表面的高度。可以使...