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技術文章
TECHNICAL ARTICLES我們致力于與您的集成需求一起不斷發展，Smart2我們很高興與您分享一些有關我們的Smart2系統令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關新功能的信息，有一個演示該系統在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...
層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運用于電動車的高容量商業鋰離子電池正極材料。然而，在循環過程中的結構劣化會造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產生的層間滑移（planargliding）和晶內微裂紋（microcracking）為結構劣化的主要表現形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區間發生的*有現象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區間緩慢膨脹，高壓區間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...
偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領域發揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現在對樣品微觀結構的精細觀察上，還體現在對樣品性質的深入分析上。以下將詳細闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優勢。一、重要作用揭示樣品微觀結構：偏光顯微鏡能夠利用偏光現象增強樣品中的細節和對比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結構。這對于材料科學、地質學、生物學等領域的科研工作者來說至關重要，因為他們需要深入了解樣品的內部結構以揭示其性質和功能。分析樣品光學性質：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...
在科技日新月異的今天，高精度測量技術已成為眾多科研與工業領域至關重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應用領域，成為了精密測量領域中的一顆璀璨明星。這款儀器結合了高精度旋轉模塊和先進的3D光學輪廓儀技術，實現了在固定位置上的全自動3D表面測量。其特殊的五軸設計，使得樣品可以在多個方向上進行靈活旋轉和定位，從而確保了對復雜曲面和不規則形狀樣品的全表面精確測量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測量原理基于白光干涉現象。光源發出的光經過擴束準...
蔡司掃描電鏡（SEM）作為現代材料科學、生命科學等領域的重要分析工具，其樣品的制樣過程直接關系到觀察結果的準確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質量的微觀圖像。首先，根據樣品的性質（如導電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對于導電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導電膠將其固定在樣品臺上。而對于導電性較差或非導電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進行鍍膜處理，以增加導電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進行樣品的清洗和干燥。...
我們致力于與您的集成需求一起不斷發展，Smart2我們很高興與您分享一些有關我們的Smart2系統令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關新功能的信息，有一個演示該系統在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...
隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機材料和化工產品的研發與應用正在蓬勃發展。與此同時，如何進行高分辨率的微觀表征和實時過程監測，也成為相關研究的重要課題。在這一領域，掃描電鏡以其獨*的成像與分析功能，提供了極*價值的解決方案。澤攸科技自主研發的ZEM18掃描電鏡實現了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結構。同時，其配備的能譜系統可以分析材料元素組成，研究材料結構與性能之間的內在關系。此外，ZEM18還可進行各種原位測試，實現對化學反應過程的實時、動態監測。這為研...
掃描電鏡是一種廣泛應用于材料科學、半導體工藝等領域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發出來的電子信號，對物質微觀形貌進行表征。在半導體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應用于器件結構的實時檢測和剖面分析方面，為生產和研發提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結構分析等功能，適用于半導體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現器件結構的實時檢測和剖面分析，提高半導體器件的制造質量和性能穩定...