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Sensofar S wide：難測樣品也能輕松應對 在光學行業檢測透明樣品（如大尺寸玻璃蓋板、光學鏡片、透明薄膜）時，傳統設備常因表面反光導致數據失真，而 Sensofar S wide 通過專屬光學設計，能輕松應對這類難題，無需額外加裝復雜附件。
更新時間：2025-10-24
產品型號：S-wide
瀏覽量：100
Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品（如電路板、光學鏡片、模具型腔）時，傳統 3D 輪廓儀常因視野有限，需要多次掃描后拼接數據，不僅耗時久，還可能因拼接偏差影響結果準確性。
更新時間：2025-10-24產品型號：S-wide瀏覽量：86
Sensofar在半導體晶圓薄膜厚度測量中的應用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學技術（共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射）實現對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數據輸出四個維度展開說明。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：103
Sensofar光學輪廓儀在光學元件制造中的應用Sensofar光學輪廓儀智能化檢測與分析系統 Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術融合在同一平臺，實現從超光滑到粗糙表面的全場景測量。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：94Sensofar光學輪廓儀智能化檢測與分析系統 SensoSCAN軟件作為S neox的核心配套軟件，采用模塊化界面設計，支持測量模式選擇、參數設置與實時成像。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：116Sensofar三維光學輪廓儀突破實驗室應用限制 S neox具備優異的環境適應性，可在多種復雜環境下穩定工作。設備采用工程塑料與金屬支撐結構，兼顧輕量化與抗沖擊性能，抗振動性能優異。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：111