sensofar白光干涉儀助力光學(xué)元件質(zhì)量把控
光學(xué)元件作為光學(xué)設(shè)備的核心組成部分，其表面質(zhì)量直接影響設(shè)備的光學(xué)性能。Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox，以白光干涉技術(shù)為核心，在光學(xué)元件的質(zhì)量把控工作中發(fā)揮著重要作用，成為光學(xué)制造企業(yè)信賴的檢測(cè)設(shè)備。
光學(xué)元件如透鏡、棱鏡等，對(duì)表面平整度、光潔度有著高要求，微小的表面瑕疵都可能導(dǎo)致光線折射、反射異常，影響設(shè)備的成像效果或光學(xué)性能。傳統(tǒng)的白光干涉檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)過(guò)程中，有時(shí)會(huì)因環(huán)境光線干擾、掃描速度慢等問(wèn)題，影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與效率。而 S neox 白光干涉儀在這些方面進(jìn)行了優(yōu)化，更好地適配光學(xué)元件的檢測(cè)需求。
在檢測(cè)光學(xué)透鏡表面時(shí)，S neox 白光干涉儀能夠有效過(guò)濾環(huán)境光線的干擾，通過(guò)白光干涉技術(shù)精準(zhǔn)捕捉透鏡表面的微觀起伏。無(wú)論是透鏡表面的微小劃痕、凹陷，還是鍍膜層的厚度均勻性，都能被清晰呈現(xiàn)。檢測(cè)人員可通過(guò)儀器配套的軟件，對(duì)這些數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，判斷透鏡表面質(zhì)量是否符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。例如，在相機(jī)鏡頭的生產(chǎn)過(guò)程中，通過(guò)該干涉儀對(duì)鏡片表面進(jìn)行逐一檢測(cè)，能及時(shí)剔除存在瑕疵的鏡片，確保相機(jī)鏡頭的成像質(zhì)量。
對(duì)于大尺寸光學(xué)元件的檢測(cè)，S neox 白光干涉儀也能應(yīng)對(duì)自如。它具備靈活的掃描范圍調(diào)節(jié)功能，可根據(jù)元件尺寸調(diào)整檢測(cè)區(qū)域，無(wú)需多次移動(dòng)元件就能完成整體檢測(cè)，減少了因元件移動(dòng)產(chǎn)生的檢測(cè)誤差。某光學(xué)儀器生產(chǎn)企業(yè)在檢測(cè)大型天文望遠(yuǎn)鏡的鏡片時(shí)，借助該干涉儀，成功完成了直徑數(shù)米鏡片的表面檢測(cè)工作，準(zhǔn)確獲取了鏡片表面的平整度數(shù)據(jù)，為鏡片的研磨、拋光工藝優(yōu)化提供了關(guān)鍵依據(jù)。
除了表面缺陷檢測(cè)，S neox 白光干涉儀還能用于光學(xué)元件表面粗糙度的分析。在激光設(shè)備的鏡片檢測(cè)中，表面粗糙度會(huì)影響激光的反射效率，該干涉儀可通過(guò)精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)分析，得出鏡片表面粗糙度的具體數(shù)值，幫助技術(shù)人員判斷鏡片是否滿足激光設(shè)備的使用要求。同時(shí)，該儀器的檢測(cè)過(guò)程無(wú)需對(duì)元件進(jìn)行破壞性處理，檢測(cè)完成后元件可直接進(jìn)入后續(xù)生產(chǎn)環(huán)節(jié)，減少了資源浪費(fèi)，降低了生產(chǎn)成本。
在光學(xué)制造行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈的當(dāng)下，對(duì)光學(xué)元件質(zhì)量的把控成為企業(yè)提升競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵。S neox 白光干涉儀以其可靠的檢測(cè)性能、便捷的操作方式，為光學(xué)元件質(zhì)量把控提供了有力支持，幫助企業(yè)生產(chǎn)出更符合市場(chǎng)需求的光學(xué)產(chǎn)品，推動(dòng)光學(xué)制造行業(yè)的持續(xù)發(fā)展。
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