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產品簡介
BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細節在地質、材料、生物等領域的微觀研究中，普通顯微鏡難以區分各向同性與各向異性樣品的內部結構，而奧林巴斯 BX53P 專業偏光顯微鏡憑借精準的偏光技術，能清晰呈現樣品的光學特性，挖掘肉眼不可見的細節。
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BX53P顯微鏡偏光檢測：看清樣品的隱藏細節
參數類別 | 參數內容 |
光學系統 | UIS2 無限遠校正光學系統 |
物鏡倍數 | 4×、10×、20×、40×、100× |
偏光組件 | 可旋轉起偏器、檢偏器 |
光源類型 | LED 透射光源（壽命≥10000 小時） |
載物臺尺寸 | 188mm×134mm，移動范圍 76mm×52mm |
適用樣品類型 | 巖石薄片、高分子材料、生物切片等 |
樣品準備：將樣品（如巖石薄片、塑料薄膜）平穩放置在載物臺中心，用壓片固定，確保樣品表面無污漬；
設備調試：打開電源，調節光源亮度至合適水平；根據樣品類型選擇對應倍數的物鏡，通過粗調旋鈕下降鏡筒至接近樣品，再用微調旋鈕清晰對焦；
偏光觀測：旋轉起偏器至指定角度（通常與檢偏器呈 90°），觀察樣品的干涉色與結構特征，可通過調節載物臺角度進一步分析樣品的光學特性；
圖像記錄：若需保存觀測結果，可連接相機組件，通過配套軟件拍攝圖像并導出，支持后續分析與報告制作。
