Sensofar S wide：讓大事業數據賦能產研一、科研場景：細微變化與全局趨勢兼顧
在材料、光學等科研領域，研究人員常需要同時掌握樣品的全局狀態與局部細微變化，Sensofar S wide 的大視野與細節捕捉能力，能為這類研究提供全面的數據支撐，避免傳統設備 “顧此失彼" 的局限。
比如研究大尺寸復合材料的表面磨損特性時，傳統設備只能檢測局部區域，難以判斷磨損的整體分布規律；而 S wide 一次掃描就能覆蓋整個樣品表面（如 300mm×200mm 的復合材料試樣），既能呈現磨損區域的全局分布趨勢（如邊緣磨損更嚴重），又能放大局部磨損點，清晰記錄磨損深度、劃痕形態等細節數據。軟件還支持 “時間序列分析"，可對比不同實驗階段的樣品表面數據，直觀呈現磨損隨時間的變化規律，為材料耐磨性能研究提供可靠依據。
在光學鏡片研發中，S wide 同樣能發揮價值。研發大直徑光學鏡片時，需要檢測鏡片的整體平整度與局部缺陷（如邊緣氣泡、表面劃痕），傳統設備需分多次檢測再拼接，效率低且易出現數據偏差；而 S wide 一次掃描就能完成全鏡片檢測，軟件自動生成平整度分布圖與缺陷標注，研究人員可快速定位影響鏡片光學性能的關鍵區域，針對性優化打磨工藝，縮短研發周期。
二、生產場景：大尺寸樣品的高效質量把關
在電子、模具、汽車等生產領域，大尺寸樣品的批量檢測是質量控制的關鍵環節，S wide 的大視野設計與高效掃描能力，能適配產線節奏，減少不合格品流出，同時為工藝優化提供數據支持。
以電子行業大尺寸柔性電路板生產為例，電路板表面的元件高度偏差、焊點缺陷會直接影響產品性能。傳統設備檢測一塊 1.2 米長的電路板需分多次掃描，耗時久且易漏檢；而 S wide 一次掃描就能覆蓋整個電路板，軟件自動識別元件高度異常、焊點凸起等問題，生成帶缺陷標注的檢測報告，質檢人員可快速篩選不合格產品。同時，設備能統計每批次電路板的缺陷分布規律（如某區域焊點缺陷集中），反饋給生產部門調整貼裝工藝，從源頭減少問題產生。
模具行業的大型模具檢測更是 S wide 的優勢場景。汽車保險杠模具、家電外殼模具等大尺寸模具，型腔表面的平整度與缺陷直接決定產品外觀質量。傳統檢測需人工用探針逐點測量，效率低且數據不完整；而 S wide 通過大視野掃描，能完整呈現模具型腔的表面形貌，自動對比設計模型與實際模具的偏差，標注超差區域（如型腔某處凹陷超標），模具維修人員可根據數據精準打磨，避免盲目修復導致的模具損壞，同時縮短維修時間，減少產線停機損失。
三、數據應用：不止于 “測"，更在于 “用"
S wide 的價值不僅是 “獲取大視野數據"，更在于讓數據能靈活應用于不同場景，無需額外復雜處理，降低數據使用門檻。
軟件支持 “數據與設計模型聯動"，可導入 CAD 設計文件，自動對比測量數據與設計值的偏差，用顏色梯度圖直觀展示超差區域，技術人員不用反復對照圖紙與數據表格，快速定位問題。比如生產大型機械零件時，導入零件的 CAD 模型后，S wide 會自動標記尺寸超差的部位，清晰呈現 “哪里不符、偏差多少"，為生產工藝調整提供明確方向。
數據導出與共享也高度靈活，支持 PDF、Excel、STL 等多種格式，可直接用于科研論文圖表、生產質檢報告或工藝優化方案。比如科研人員可將 S wide 生成的表面形貌圖直接插入論文，無需額外軟件處理；生產部門可導出 Excel 格式的檢測數據，統計每批次產品的合格率，用于生產管理匯報。
無論是科研中的 “全局與細節兼顧"，還是生產中的 “高效質量把關"，Sensofar S wide 都能通過大視野測量數據，為產研環節提供實用支持，讓數據不再是 “冰冷的數字"，而是推動研究深入、保障產品質量的有力工具，真正實現 “大視野數據賦能產研"。
Sensofar S wide：讓大事業數據賦能產研
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