在高校基礎實驗教學、中小學科技創新實驗室及小型科研機構的基礎研究中，對臺式掃描電子顯微鏡的需求更側重于操作便捷性、性價比與基礎觀察能力，ZEM15 憑借貼合入門場景的設計與穩定的基礎性能，成為這類場景的優選設備，幫助初學者輕松開啟微觀世界探索之旅。
一、產品細節：簡化操作，適配教學場景
ZEM15 在結構設計上充分考慮教學使用需求，機身采用模塊化組裝方式，拆開包裝后只需連接電源與電腦，無需專業安裝團隊即可完成部署，大幅降低了教學實驗室的設備 setup 難度。機身側面設有清晰的操作指引貼紙，標注了電源開關、樣品室門開關、緊急停止按鈕等關鍵操作部件的位置與使用方法，初學者可快速熟悉設備基本操作。
樣品室門采用透明有機玻璃材質，搭配金屬邊框，既保證了安全性，又方便學生在操作過程中觀察樣品臺位置，避免因誤操作導致樣品或設備損壞。樣品室內部配備簡易樣品固定裝置，包含通用樣品臺與多種規格的夾具（如圓形樣品夾具、片狀樣品夾具），無需額外定制工裝，即可固定金屬片、塑料顆粒、生物切片等常見教學樣品，適配多樣化的實驗需求。
操作面板除觸控屏外，還保留了實體快捷鍵，如 “緊急停止"“真空啟動"“掃描暫停" 等關鍵功能均設有獨立實體按鈕，即使在觸控屏故障的情況下，也能保障設備基本操作與安全控制，適合教學場景中多人輪流操作的需求。設備還配備了可拆卸的防塵罩，閑置時覆蓋機身，能有效防止灰塵進入設備內部，減少維護頻率，降低教學實驗室的設備管理成本。
二、產品性能：基礎功能滿足教學觀察需求
ZEM15 的鎢燈絲電子槍雖為基礎配置，但經過優化設計，使用壽命延長至 1000 小時以上，能滿足一個學期的教學實驗需求，減少頻繁更換燈絲的麻煩。加速電壓 0.5kV～15kV 的調節范圍，可覆蓋教學中常見樣品的觀察需求：例如觀察金屬樣品表面形貌時，選用 10kV～15kV 電壓，能清晰呈現晶粒與晶界；觀察塑料樣品時，選用 0.5kV～5kV 低電壓，可避免樣品充電，呈現表面紋理。
分辨率方面，3.0nm（30kV）與 8.0nm（1kV）的性能表現，足以滿足基礎教學對微觀觀察的精度要求。在材料學基礎實驗中，學生可通過 ZEM15 觀察鋁合金的鑄造組織，分辨不同尺寸的晶粒；在生物學實驗中，觀察經過噴金處理的花粉顆粒，能清晰看到花粉表面的紋路與凸起；在電子學基礎實驗中，觀察廢舊電路板的銅箔布線，可直觀了解電路微觀結構。
掃描模式簡化為慢、中、快三檔，教學中可根據實驗目標選擇：慢掃模式用于獲取清晰圖像，適合實驗報告中的圖像采集；中掃模式用于樣品快速定位，幫助學生掌握樣品臺調節方法；快掃模式則可用于課堂演示，快速展示不同樣品的微觀形貌，提升教學效率。設備的圖像刷新率優化至 15 幀 / 秒，在中掃模式下，屏幕顯示的圖像流暢無卡頓，便于學生實時觀察操作對成像的影響。
三、用材與參數：基礎配置保障教學穩定性
ZEM15 的核心部件用材在保證基礎性能的同時，兼顧了成本與耐用性。電子透鏡采用普通純鐵材質，經過標準化加工工藝處理，雖在聚焦精度上不及型號，但能滿足基礎觀察的電子束聚焦需求，且制造成本更低，適合教學設備的批量采購。樣品臺導軌采用 45 號鋼材質，表面經過調質處理，硬度達 HB220～250，能承受教學場景中頻繁的手動調節，長期使用后仍能保持基本的移動精度。
真空系統標配機械泵，可選配分子泵，教學場景中使用機械泵即可滿足基礎真空需求（真空度 10?3Pa），抽真空時間約 10～15 分鐘，雖慢于型號，但能讓學生在實驗過程中觀察真空度變化，理解真空環境對電子顯微鏡成像的重要性。設備電源模塊采用寬電壓設計，能適應 180V～240V 的電壓波動，避免因實驗室電壓不穩定導致設備故障，保障教學實驗的順利進行。
以下為 ZEM15 適配教學場景的核心參數表：
四、用途與使用說明：貼合教學實驗流程
ZEM15 在教學場景中的用途廣泛，在高校材料科學與工程專業的基礎實驗中，可用于 “金屬材料微觀結構觀察" 實驗，讓學生通過對比不同熱處理狀態下金屬的微觀形貌，理解熱處理對材料性能的影響；在生物學專業的基礎實驗中，開展 “生物樣品掃描電鏡觀察" 實驗，指導學生完成樣品脫水、噴金等預處理步驟，掌握掃描電鏡樣品制備方法；在中小學科技創新課程中，可用于 “微觀世界探索" 項目，讓學生觀察身邊常見物品（如頭發、紙張、昆蟲翅膀）的微觀結構，激發科學探索興趣。
針對教學場景的使用說明優化如下：首先，實驗前需進行設備狀態檢查，指導學生查看燈絲壽命提示、真空系統壓力顯示，確認設備正常；然后進行樣品制備教學，以金屬樣品為例，演示樣品切割、打磨、拋光、清洗的步驟，若為非金屬樣品，需演示噴金處理過程（可搭配小型臺式噴金儀）；接著講解設備操作流程，先打開機械泵電源，等待真空度降至 10?3Pa 以下，再打開電子槍電源，設置加速電壓（教學中推薦使用 10kV）與放大倍率（從低倍率 20x 開始），通過手動調節樣品臺，將樣品移至視野中心，旋轉調焦手輪至圖像清晰；最后指導學生進行圖像采集與保存，通過 USB 接口將圖像導出至電腦，用于實驗報告撰寫。
教學使用中需特別注意安全規范，例如禁止在樣品室未關閉時啟動電子槍，防止電子束泄漏；禁止用手直接觸摸樣品臺與探測器，避免污染；實驗結束后需先關閉電子槍，再關閉真空系統，待樣品室放氣至常壓后取出樣品。設備還內置 “教學模式"，開啟后屏幕會顯示操作步驟提示，幫助學生逐步掌握操作方法，減少教師指導壓力。
五、型號特點：高性價比的入門選擇
作為 ZEM 系列的入門型號，ZEM15 的核心優勢在于高性價比與教學適配性。其價格遠低于 ZEM18 與 ZEM20，適合高校實驗室批量采購，滿足多個實驗小組同時開展實驗的需求；操作流程簡化，無需專業操作人員，學生經過 1～2 課時的培訓即可獨立完成實驗，降低了教學成本；基礎性能穩定，故障率低，減少了教學過程中因設備故障導致的實驗中斷。
同時，ZEM15 支持功能擴展，隨著教學需求升級，可后續加裝背散射電子探測器、小型 EDS 模塊，逐步提升設備功能，滿足從基礎教學到進階實驗的過渡需求。無論是培養學生的微觀觀察能力，還是開展基礎科研項目，ZEM15 都能以實用的性能與親民的成本，成為教學科研領域微觀觀察的入門優選設備。
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