對于地質學家、礦物學家或從事聚合物、玻璃應力分析的研究人員而言，偏光顯微鏡是專業設備。奧林巴斯專業偏光顯微鏡BX53P專為偏光觀察而優化，能夠清晰地展現樣品的各向異性特征，揭示晶體形態和應力分布。

BX53P的核心在于其精確的偏光系統。顯微鏡配備了起偏器、檢偏器和勃氏鏡，并確保偏振鏡片處于精確的90度正交位置，以提供高消光比的暗場背景，從而凸顯樣品的干涉色。360度可旋轉的專業級載物臺帶有刻度尺和游標尺，可以精確測量晶體的消光角，為定量分析提供數據支持。

在材質方面，BX53P的光路部件經過特殊設計和篩選，以最大限度地減少自身應力和雙折射現象對觀察結果的干擾，確保成像的準確性。其物鏡專為偏光觀察設計，具有良好的應力消除（PC）特性。

主要用途： 廣泛應用于地質礦產鑒定、巖石薄片分析、聚合物結晶形態觀察、液晶、纖維以及工業材料的應力檢測。

使用說明簡述： 將樣品薄片置于旋轉載物臺中心，插入起偏器和檢偏器，調節至正交位置即可觀察到樣品的干涉圖樣。通過旋轉載物臺，可以分析晶體的光學性質。

參數表示例：

• 型號： BX53P

• 觀察方式： 偏光（POL）、明場

• 載物臺： 可旋轉中心載物臺（360°旋轉，帶刻度與游標）

• 檢偏器： 可360°旋轉，帶刻度

• 勃氏鏡： 內置，可調焦

• 物鏡： 無應力（PC）物鏡

奧林巴斯BX53P專業偏光顯微鏡，為需要精確偏光分析的專業領域提供了清晰的觀察解決方案。