澤攸集成化的臺(tái)階測(cè)量方案

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

澤攸集成化的臺(tái)階測(cè)量方案
澤攸臺(tái)階儀憑借靈活的配置，可適應(yīng)多樣化的測(cè)量需求。其采用模塊化設(shè)計(jì)，傳感器與工作臺(tái)均可根據(jù)樣品特性更換，提升設(shè)備的適用范圍。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-08-25

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：88

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

澤攸臺(tái)階儀從納米臺(tái)階到微納制造的“精密標(biāo)尺”

澤攸臺(tái)階儀：精密測(cè)量的科技先鋒

高分子切片機(jī)在病理學(xué)研究中的應(yīng)用實(shí)例

ZEM20的成像模式與應(yīng)用探索?

詳細(xì)介紹在線留言

澤攸 ST800 臺(tái)階儀集成了接觸式與非接觸式測(cè)量功能，通過(guò)智能化控制系統(tǒng)，為復(fù)雜樣品的測(cè)量提供全面解決方案。澤攸集成化的臺(tái)階測(cè)量方案

接觸式測(cè)量范圍 0 - 800μm，垂直分辨率 0.05nm；非接觸式光學(xué)傳感器采用白光干涉原理，測(cè)量范圍 0 - 100μm，垂直分辨率 0.1nm，兩種模式可無(wú)縫切換，兼顧深臺(tái)階與精細(xì)表面的測(cè)量需求。

設(shè)備工作臺(tái)采用氣浮設(shè)計(jì)，運(yùn)動(dòng)平穩(wěn)無(wú)摩擦，X/Y 行程 200mm，定位精度 5μm，支持自動(dòng)樣品定位與多點(diǎn)測(cè)量。軟件具備圖像拼接功能，可將多個(gè)測(cè)量區(qū)域的形貌圖拼接成完整的樣品表面形貌，便于整體分析。

用材上，關(guān)鍵部件如導(dǎo)軌、絲杠等選用進(jìn)口高精度產(chǎn)品，確保設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。使用說(shuō)明中詳細(xì)介紹了自動(dòng)測(cè)量流程：通過(guò)相機(jī)定位樣品特征，軟件規(guī)劃測(cè)量路徑，自動(dòng)完成多個(gè)點(diǎn)的測(cè)量并生成綜合報(bào)告。適用于精密儀器制造中的表面質(zhì)量檢測(cè)、高校科研中的材料表征等場(chǎng)景，為用戶提供高效、全面的測(cè)量支持。澤攸集成化的臺(tái)階測(cè)量方案

使用時(shí)，將樣品固定在工作臺(tái)上，調(diào)整觸針位置使其輕觸樣品表面，設(shè)置掃描速度（0.1 - 1mm/s）和掃描長(zhǎng)度后啟動(dòng)測(cè)量。適用于薄膜厚度檢測(cè)、涂層臺(tái)階分析等場(chǎng)景，如半導(dǎo)體晶圓的鍍膜厚度測(cè)量，為生產(chǎn)質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。

上一個(gè)：澤攸深度測(cè)量的可靠選擇