澤攸電鏡 以多功能性滿足多樣化研究需求，其集成了掃描電鏡（SEM）與透射電鏡（TEM）的部分功能，通過更換樣品臺與探測器即可實現不同模式的切換。
作為 SEM 使用時，加速電壓 5 - 50kV，二次電子分辨率 2.0nm；切換至 TEM 模式后，可對薄樣品進行觀察，點分辨率達 0.2nm，晶格分辨率 0.14nm。設備配備高角度環形暗場探測器（HAADF），能通過原子序數襯度成像，清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸科研的電鏡解決方案
機械結構采用大理石底座，有效吸收外界振動，保證高倍成像時的穩定性。電子光學系統的透鏡采用無磁材料制造，減少磁場對電子束的干擾。參數表中顯示，其最大樣品傾斜角為 60°，適合進行動態原位觀察，如材料在拉伸過程中的微觀結構變化。
面向科研需求，澤攸電鏡 在性能與擴展性上表現突出。其采用冷場發射電子槍，電子束能量穩定性優于 0.1eV/h，為高分辨率成像與精細成分分析奠定基礎。
加速電壓 10 - 100kV，可調節步長 0.1kV，滿足不同厚度與成分樣品的觀察需求。配備球差校正器，能將電子束的球差降至最小，使 STEM 模式下的點分辨率達到 0.08nm，可直接觀察原子排列結構。
設備支持多種原位實驗附件，如加熱臺（室溫 - 1000℃）、拉伸臺（最大拉力 50N），可在電鏡內模擬樣品的服役環境，記錄動態變化過程。真空系統采用全無油設計，避免油蒸氣對樣品的污染，極限真空達 5×10??Pa。
使用時，需通過專業培訓掌握高級功能，軟件支持自動化數據采集與分析，可批量處理多個觀察點的圖像與光譜數據。適用于國家實驗室、頂尖高校的前沿研究，如二維材料的原子層表征、催化劑的動態反應機理研究等，助力突破科學難題。澤攸科研的電鏡解決方案
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